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影響漆膜測(cè)厚儀測(cè)量精度的原因有哪些
日期：2025-04-28 11:54
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摘要： 影響漆膜測(cè)厚儀測(cè)量精度的原因如下：
1.邊界間距如果探頭與被測(cè)體邊界、孔眼、空腔、其他截面變化處的間距小于規(guī)定的邊界間距，由于磁通或渦流載體截面不夠?qū)?dǎo)致測(cè)量誤差。如必須測(cè)量該點(diǎn)的覆層厚度，只有預(yù)先在相同條件的無(wú)覆層表面進(jìn)行校準(zhǔn)，才能測(cè)量。（注：新的產(chǎn)品有透過(guò)覆層校準(zhǔn)的獨(dú)特功能可達(dá)3～10％的精度）
2.基體表面曲率在一個(gè)平直的對(duì)比試樣上校準(zhǔn)好一個(gè)初始值，然后在測(cè)量覆層厚度后減去這個(gè)初始值?；騾⒄障聴l。
3.基體金屬小厚度基體金屬必須有一個(gè)給定的小厚度，使...
影響漆膜測(cè)厚儀測(cè)量精度的原因如下：
1.邊界間距如果探頭與被測(cè)體邊界、孔眼、空腔、其他截面變化處的間距小于規(guī)定的邊界間距，由于磁通或渦流載體截面不夠?qū)?dǎo)致測(cè)量誤差。如必須測(cè)量該點(diǎn)的覆層厚度，只有預(yù)先在相同條件的無(wú)覆層表面進(jìn)行校準(zhǔn)，才能測(cè)量。（注：新的產(chǎn)品有透過(guò)覆層校準(zhǔn)的獨(dú)特功能可達(dá)3～10％的精度）
2.基體表面曲率在一個(gè)平直的對(duì)比試樣上校準(zhǔn)好一個(gè)初始值，然后在測(cè)量覆層厚度后減去這個(gè)初始值。或參照下條。
3.基體金屬小厚度基體金屬必須有一個(gè)給定的小厚度，使探頭的電磁場(chǎng)能完全包容在基體金屬中，小厚度與測(cè)量器的性能及金屬基體的性質(zhì)有關(guān)，在這個(gè)厚度之上剛好可以進(jìn)行測(cè)量而不用對(duì)測(cè)量值修正。對(duì)于基體厚度不夠而產(chǎn)生的影響，可以采取在基材下面緊貼一塊相同材料的措施予以消除。如難以決斷，或無(wú)法加基材則可以通過(guò)與已知覆層厚度的試樣進(jìn)行對(duì)比來(lái)確定與額定值的差值。并且在測(cè)量中考慮這點(diǎn)而對(duì)測(cè)量值作相應(yīng)的修正或參考第2條修正。而那些可以標(biāo)定的儀器通過(guò)調(diào)整旋鈕或按鍵，便可以得到準(zhǔn)確的直讀厚度值。反之利用厚度太小產(chǎn)生的影響又可以研制直接測(cè)銅箔厚度的測(cè)厚儀，如前所述。
4.表面粗糙度和表面清潔度在粗糙度表面上為獲得一個(gè)有代表性的平均測(cè)量值必須進(jìn)行多次測(cè)量才行。顯而易見(jiàn)，不論是基體或是覆層，越粗糙，測(cè)量值越不可靠。為獲得可靠的數(shù)據(jù)，基體的平均粗糙度Ra應(yīng)小于覆層厚度的5％。而對(duì)于表面雜質(zhì)，則應(yīng)予去除。有的儀表上下限，以剔除那些“飛點(diǎn)”。
5.探頭測(cè)量板的作用力探頭測(cè)量時(shí)的作用力應(yīng)是恒定的。并應(yīng)盡可能小。才不致使軟的覆層發(fā)生形變，以致測(cè)量值下降。活產(chǎn)生大的波動(dòng)，必要時(shí)，可在兩者之間墊一層硬的，不導(dǎo)電的，具有一定厚度的硬性薄膜。這樣通過(guò)減去薄膜厚度就能適當(dāng)?shù)氐玫绞４拧?
6.外界恒磁場(chǎng)、電磁場(chǎng)和基體剩磁應(yīng)該避免在有干擾作用的外界磁場(chǎng)附近進(jìn)行測(cè)量。殘存的剩磁，根據(jù)檢測(cè)器的性能可能導(dǎo)致或多或少的測(cè)量誤差，但是如結(jié)構(gòu)鋼，深沖成形鋼板等一般不會(huì)出現(xiàn)上述現(xiàn)象。
7.覆層材料中的鐵磁成份和導(dǎo)電成份覆層中存在某些鐵磁成分，如某種顏料時(shí)，會(huì)對(duì)測(cè)量值產(chǎn)生影響，在這種情況下，對(duì)用作校準(zhǔn)的對(duì)比試樣覆層應(yīng)具有與被測(cè)物覆層相同的電磁特性，經(jīng)校準(zhǔn)后使用。使用的方法可以是將同樣的覆層涂在鋁或銅板試樣上，用電渦流法測(cè)試后獲得對(duì)比標(biāo)準(zhǔn)試樣。
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